| 摘要：在实际工作中，引起光缆链路故障的主要原因有：光缆过长、弯曲过渡、光纤受压或断裂、熔接不良、核心直径不匹配、模式混用、填充物直径不匹配、接头污染、接头抛光不良、接头接触不良。 |
需要指出的是，为了保证光信号远距离、低损耗的传输，整条光纤链路必须满足非常苛刻且敏感的物理条件。任何细微的几何形变或者轻微污染都会造成信号的巨大衰减，甚至中断通信。在实际工作中，引起光缆链路故障的主要原因有：光缆过长、弯曲过渡、光纤受压或断裂、熔接不良、核心直径不匹配、模式混用、填充物直径不匹配、接头污染、接头抛光不良、接头接触不良。
1.光缆过长
由于光纤本身的缺陷和掺杂组分的非均匀性，使得其中传播的光信号时时刻刻都在发生着散射和被吸收。随着制造原料和制造工艺的改进，如今的光纤已经将1970年每公里20dB的衰减减小到每公里1dB。同时，ISO11801、ANSI/TIA/EIA568B等标准化组织也对光纤链路单位距离衰减作了明文规定。
然而即便如此，光纤本身的衰减依然存在。所以当光纤链路过长，就会造成整条链路的整体衰减超过了网络设计的门限，导致通信质量的下降。在实际工作中，由于光链存在众多盘线，所以光链路的长度往往大于实际通信节点的物理距离，稍不小心就会造成光链路过长。所以，在布线设计时要明确各段线路的长度设计，预防光缆过长。同时在布线施工完成后，通过仪表测量光链路的实际长度，如图1所示(Flukenetworks公司的OptifiberTM能够测量每段接线的长度，以方便在必要处修正链路)，以保证施工与设计的一致性。
图1OptifiberTM光纤长度和连接图
2.弯曲过度
光缆弯曲损耗和受压损耗其本质都是由于光不满足全内反射的条件而造成的。
光纤具有一定的易弯曲性，尽管可以弯曲，但当光纤弯曲到一定程度时，将引起光的传播途径的改变，使一部分光能渗透到包层中或穿过包层成为辐射模向外泄漏损失掉，产生弯曲损耗。当光在弯曲部分中传输时，越靠近光纤外侧传输速度就越大。当传输到某一位置时，其速度就会超过光速，传导模变成辐射模产生损耗。当弯曲半径过小时，由弯曲造成的损耗会变得非常明显。所以，一般建议动态弯曲半径不得小于光缆外径的20倍，静态弯曲半径不得小于光缆外径的15倍,
实际使用中，光纤中数据是沿直线传播的，光纤保持不弯曲，数据就不会出现问题;如果弯一点，数据就开始溢出;如果把光纤紧紧缠绕成一个圈，就会彻底失去信号。所以，在布线施工时，要特别注意给走线预留充足的角度，例如沿着墙角、走廊、桌面稍微弯曲过渡，传输就可能失败了。
另一方面，也可以利用弯曲将光纤中高次模过滤掉，从而提高光线衰减测量时的稳定性。图2显示了光信号在光纤中辐射模衰减的原理，以及经卷轴调制高次模的过程。
3.光缆受压或断裂
光纤受到不均匀应力的作用，例如受到压力或者套塑光纤受到温度变化时，光纤轴产生微小不规则弯曲甚至断裂，其结果是传导模变换为辐射模而导致光能损耗。尤其，当断裂发生在光缆内部时，从外表无法发现故障，但是在光纤断裂处由于折射率发生突变，甚至会形成反射损耗，使光纤的信号质量相信就会大打折扣。此时，可以通过OTDR测试仪检测发现光纤内部弯曲处或断裂点。需要指出的是，在局域网布线中距离较短，所以对于OTDR测试仪的精度要求较高，一般建议使用事件死去(即分辨精度)不大于1m的测试仪器。
4.光缆熔接不良
在光纤布线中，经常会用到熔接技术将两段光纤融合成一条。由于是对核心层的玻璃纤维进行熔接，所以在熔接过程中需要剥除被熔光纤的表皮和填充物，然后再熔接。在现场操作过程中，由于操作不当以及恶劣的施工环境，很容易造成玻璃纤维的污染，从而导致在熔接过程中混入杂质、密度变化、甚至产生气泡如图3所示，最终是整条链路的通信质量下降。
所以不论是热熔或冷熔技术，为了保证熔接点衰减能够达到TIA和ISO共同规定的0.3dB对于被熔光纤、以及操作流程都严格的要求和规定。例如需要保证熔接机电极的清洁，需要在熔接前保证玻璃纤维的干净，需要保证现场施工环境温度和湿度等。当遇到光纤熔接问题造成衰减，可以通过OptifiberTM精确判断每个熔接点的位置和损耗。
5.核心直径不匹配
活动连接也是光纤布线中经常使用的布线手段，例如法兰连接。这种方法灵活、简单、方便、可靠，多用在建筑物内的计算机网络布线中。活动连接一般损耗在1dB左右，但是如果制作活动连接时光纤端面不清洁，接合不紧密，核心直径不匹配的话(如图4所示)，接头损耗就会大大增加。其中核心直径不匹配不仅指单模多模光纤混用，还包括62.5和50线径的多模光纤混用。
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