2020年9月9-11日，MultiLane全系列高速互联测试方案将在4号馆4A305、306深圳市唐领科技展台亮相，MultiLane覆盖了高速测试仪器、互联测试夹具模块及工具、ATE测试系统等实用性研发、生产及现场测试产品。

　　此次展会重点推出800G、400G革命性误码仪，除了传统误码仪单通道53GBd的测量速率，还真正使用硬件方式进行FEC的测量而非过去的FEC的仿真功能。独特的通道仿真功能，让客户可以模拟在不同损耗下的信号状况。同时，串扰噪音作为一个特有的选项可集成在机器内部，需要做电压力及容限测试的客户有了更多的选择。配搭误码仪测试的光电采样示波器也一并展出，丰富的数字滤波器、数字信号处理能力是测量53GBd及26GBd PAM4光电信号的一大亮点。

　　高速测试的相关夹具、模块及分析工具也是此次展出的重点，CMIS分析工具是400G主机与模块交互的非常有用的分析工具，智能Loopback模块模拟功耗、发热分布及损耗，大大提高主机厂商的研发和测试效率。

　　在国家大力发展半导体产业的同时，MultiLane也拥有ATE测试系统，适用于高速I/O、RF driver及TIA等高速芯片的在线测试，此次将由上海巍测在展台展出相应的测试方案。

　　欢迎阁下到展位4A305、306参观及沟通。更多详细信息可联系sales@te-lead.com

　　责任编辑：张华